熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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光學表面質量檢測系統
CRD高反射率測量儀
角分辨散射測量系統-Horos簡易型散射儀角分辨散射測量系統-Horos(hight sensitive optical roughness sensor)簡易型散射儀 是一種小型的,便于移動的光學傳...
穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM),150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產品系列的這一新增功能可應用...
Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性,在生產車間和研發實驗室環境中均可勝任。 該模型廣泛用于研...
OptiGauge 激光測厚儀,lumetrics 測厚儀具有以下特點:非接觸式、非破壞性;實時在線測量或離線測量;單次可測量20 層膜層;探針靈活配置,實現多個不同目標測量(Z多可配8 個探頭); ...
ALBATROSS-TT是由德國Fraunhofer IOF 研發的角分辨散射儀,具有高動態范圍、高靈敏度、低噪聲等特點。
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