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Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業提供了分析和開發下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。Exicor系統的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器（PEM）。
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