熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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弱吸收儀
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LID光熱偏轉技術弱吸收儀采用光熱偏轉技術,用于測量透明光學材料及鍍膜產品受到激光照射后產生的微弱吸收。在強激光照射下,材料內部由于吸收熱能產生折射率梯度現象(熱透鏡效應),當一束探測光經過“熱透鏡”效應區域時發生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室
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