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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 應(yīng)力儀 > 應(yīng)力雙折射Exicor GEN
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-GEN，液晶基板應(yīng)力分布測(cè)量，大型液晶基板應(yīng)力分布測(cè)量，應(yīng)力測(cè)量。Hinds，Exicor GEN5， Exicor GEN6。
美國(guó)Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測(cè)量 在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測(cè)量大面積光學(xué)材料，如用于LCD（高達(dá)1500mm x 1500mm）的光學(xué)材料。 隨著液晶顯示器材料規(guī)格的成熟，專(zhuān)業(yè)化的系統(tǒng)已經(jīng)成為行業(yè)所需要的。Hinds現(xiàn)在提供從GEN5到GEN
光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺(tái)設(shè)計(jì)-使可測(cè)量面積盡可能大；強(qiáng)大的自動(dòng)化-質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時(shí)間。
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