熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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光學表面質量檢測系統
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QptLuxSD是一款創新性的光學表面瑕疵檢測,具備高重復性和準確性,系統根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告,與光學行業現在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比,提供光學表面質量控制性能,可以廣泛用于光學元件生產、出貨控制、進料檢驗等過程。
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