熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
18519585532
當前位置:首頁 > 產品中心 > 穆勒矩陣測量系統 >
產品分類
穆勒矩陣測量系統
查看全部產品
相關文章
穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM),150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產品系列的這一新增功能可應用于學術和工業研究、光學元件特性、制造和質量控制。 承包系統在各種光學、化學和生物化學樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲(或旋光)、線性二次衰減和圓形二次衰減。
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部